IC芯片，大家或多或少有所了解吧？我們手上的手機、使用的電腦等器件里都有芯片，也稱為集成電路。小小的一塊芯片，其實包含了很多東西，比如電容、電阻等，所有的元件在一塊基片上組成了一個整體，如此精密的電路，如果產生不良該如何檢測呢？

傳統的芯片檢測方法是把芯片層層撥開，使用顯微鏡對芯片的每一層表面進行觀察，這種方式不僅不能全面地觀察芯片缺陷，還會對芯片造成一定的損壞。
而現在流行的X-RAY無損檢測，不僅不會破壞芯片，還可以實現100%檢測，完全解決了傳統的芯片檢測方式的弊端。X-RAY檢測是利用X射線的穿透性，穿透被檢物后在成像系統上顯示出高清圖像，人們可以清楚地看到芯片缺陷的位置以及大小。X-RAY無損檢測除了能夠應用在芯片檢測上，還可以應用于LED燈珠、鋰電池以及半導體等缺陷的檢測。

那么以上內容就是X-RAY檢測為什么能夠取代傳統芯片檢測方式的相關解答，希望對大家有所幫助，有需要X-RAY檢測設備的朋友可以搜索達泰豐看一下哦。